EI-SCAM: EDA tool for the symbolic and sensitivity analysis of analog/RF circuits and noise assessment of electronic interfaces

Corona Nieva, Arturo

dc.contributor	LUIS ABRAHAM SANCHEZ GASPARIANO;48352	es
dc.contributor.advisor	Sánchez Gaspariano, Luis Abraham
dc.contributor.advisor	Tlelo Cuautle, Esteban
dc.contributor.author	Corona Nieva, Arturo
dc.creator	ARTURO CORONA NIEVA;641122	es
dc.date.accessioned	2018-06-10T22:39:34Z
dc.date.available	2018-06-10T22:39:34Z
dc.date.issued	2015-09-30
dc.identifier.citation	Corona N. A. 2015. EI-SCAM: EDA tool for the symbolic and sensitivity analysis of analog/RF circuits and noise assessment of electronic interfaces. Universidad Politécnica de Puebla. Departamento de Posgrado. Cartel de Simposium.	es
dc.identifier.uri	http://repositorio.uppuebla.edu.mx:8080/xmlui/handle/123456789/90
dc.description.statementofresponsibility	Estudiantes	es
dc.language	Inglés	es
dc.publisher	Universidad Politécnica de Puebla	es
dc.relation	Versión publicada	es
dc.relation.ispartof	REPOSITORIO NACIONAL CONACYT	es
dc.rights	Acceso Abierto	es
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0	es
dc.subject.classification	INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA	es
dc.title	EI-SCAM: EDA tool for the symbolic and sensitivity analysis of analog/RF circuits and noise assessment of electronic interfaces	es
dc.type	Póster de congreso	es